本测试系统可测模拟集成电路、数字集成电路及数模混合集成电路。如运算放大器、集成稳压器、D／A、A／D转换器、电压比较器、模拟开关等数模混合电路及TTL，ECL，CMOS数字电路，包括微机外围器件、静态RAM、动态RAM、EPROM和一定范围的专用集成电路。
本测试系统可测试IC器件的交流及动态参数。如：运放压摆率、转换时间、增益带宽积等，可测精密运放的偏移电压（＞luV，精度5uV）、偏移电流（＞1pA，精度10pA）具有良好的稳定性和测试精度。
本测试系统可提供多达64管脚的测试能力，每管脚可在测试过程中动态地设制成输入门（驱动）、输出（比较）或三态，驱动电平及比较电平可通过软件进行设置。在进行功能测试的过程中可动态设置输入到输出的时间延迟参数值，从而在对被测器件进行功能测试的同时也可对其时间参数进行测试。对64管脚都可进行直流参数的测量。
测试程序在Windows3.1／Windows98下用LabWindows／CVI环境开发的。测试系统的软件设计遵循vxl“即插即用联盟规范”。系统利用LabWindows／CVI强大的图形编程能力和数字信号处理能力为用户提供了完全图形化的交互编程方式。用户只需根据器件特性更改测试参数，无需编写测试程序。
测试系统技术指标：
一、管脚电路
| 管脚数 |
32PIN |
64PIN |
| 图形产生速率 |
最大 |
1Mhz ／ 8PIN(ISA 总线速率 ) |
| 定时测试精度 |
1Ons |
定时分辨率 5ns |
| 驱动高电平 |
－ 2V ～＋ 15V |
分辨率 10mV 精度 士 40mV |
| 驱动低电平 |
－ 2V ～＋ 15V |
分辨率 10mV 精度 士 40mV |
| 比较高、低电平 |
－ 2V ～＋ 15V |
分辨率 10mV 精度 士 40mV |
二、器件电压源（单向）： VS 十 VS －
| 电压范围 |
分辨率 |
精度 |
| VS ＋ 0 ～＋ 40V |
16.0mV |
士（ 0.3 ％编程值＋ 25mV ） |
| VS － 0 ～－ 40V |
16.0mV |
士（ 0.3 ％编程值＋ 25mV ） |
| 电流范围 |
分辨率 |
精度 |
| 士 250mA |
3OuA |
士（ 0.3 ％量程） |
|
士 3A( 脉冲 , 不测流 ) |
－ |
－ |
三、高精度双向电源： VS0 ， VS1 ， VS2 ， VS3 ：
| 电压范围 |
分辨率 |
精度 |
| 士 10V |
4.0mV |
士 0.3 ％ +4mV |
| 电流范围 |
分辨率 |
精度 |
| > 士 10mA |
3uA |
士 (0.3 ％量程 ) |
四、精密测量单元（PMU）
| 加压测流： |
| 电压范围 |
量程 |
分辨率 |
精度 |
| 士 1V |
1 |
0.05mV |
士（ 0.25 ％读出值＋ 0.5mV ） |
| 士 10V |
2 |
0.4mV |
士 ( 0.25 ％读出值＋ 1.5mV ) |
| 士 30V |
3 |
1mV |
士（ 0.25 ％读出值＋ 4mV ） |
| 电流范围 |
量程 |
分辨率 |
精度 |
| 500nA |
1 |
5pA |
士（ 0.5 ％读出值＋ 50pA ） |
| luA |
2 |
0.15nA |
士（ 0.25 ％量程） |
| 10uA |
3 |
1.5nA |
士（ 0.25 ％量程） |
| 100uA |
4 |
15nA |
士（ 0.25 ％量程） |
| 1mA |
5 |
150nA |
士（ 0.25 ％量程） |
| 10mA |
6 |
1.5uA |
士（ 0.25 ％量程） |
| 250mA |
7 |
5OuA |
士（ 0.25 ％量程） |
| 3A (脉冲) |
8 |
10mA |
士（ 2 ％量程） |
| 加流测压： |
| luA |
1 |
0.4nA |
士（ 0.5 ％量程） |
| 10uA |
2 |
4nA |
士（ 0.3 ％量程） |
| 100uA |
3 |
40nA |
士（ 0.3 ％量程） |
| 1mA |
4 |
400nA |
士（ 0.3 ％量程） |
| 10mA |
5 |
4uA |
士（ 0.3 ％量程） |
| 250mA |
6 |
200uA |
士（ 0.3 ％量程） |
| 3A (脉冲) |
7 |
10mA |
士（ 2 ％量程） |
|
